威宏科技
產品測試
我們提供
產品測試
可測試性和可製造性設計
借助我們的結構化和自動化測試方法，威宏科技可以幫助您順利地檢測晶片設計中的任何缺陷，以確保您的產品在上市時滿足品質要求且符合業界標準。
PKG
UBI
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VMI
CP
FTH
FTC
SLT
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CP
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UBI
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VMI
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我們提供
- Logic ATPG與 Logic/Memory BIST的DFT測試計劃
- Stuck-at,。functional, 與 speed fault 的錯誤覆蓋率報告
- 錯誤覆蓋率的關聯性分析報告與提升
- CP/FT 晶圓測試程式開發
- 探針卡、測試載板和主動式熱控制之設計
產品測試
系統級測試
對於無法使用自動測試設備進行完整測試的複雜晶片，威宏科技可為您提供執行系統級測試 (SLT) 的軟硬體平台，從而以較低的成本獲得直接的測試結果，從而加快產品上市速度
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我們提供
- 系統測試板與溫控系統設計
- 客製化系統測試軟體開發
- 即時監控測試結果與平台狀態
- 系統測試資料收集與分析
